元素单镀层膜厚标准片

简要描述：

HXNi/xx元素单镀层膜厚标准片(镀层标准片)是用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测量金属镀层厚度时进行标准化校准及建立测试档案的重要工具。

更新时间：2025-01-10

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详细介绍

品牌	Calmetrics/美国	价格区间	1千-5千
产地类别	进口	应用领域	环保,化工,能源,电子/电池,汽车及零部件

　　HXNi/xx元素单镀层膜厚标准片，又称测厚仪标准片或膜厚仪校准片，是一种具有已知镀层厚度的标准样品。

　　用途：主要用于X射线测厚仪的校准和测试标准化，以确保测量结果的准确性和可靠性。它适用于PCB(印刷电路板)、五金电镀、半导体等行业中对镀层厚度的精确测量。

　　适用于费希尔Fischer、韩国ISP、日立Hitachi(包括：牛津仪器Oxford(CMI)、精工Seiko)热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌的测厚仪。

　　美国Calmetrics公司专业生产X射线荧光镀层薄膜标准件及元素含量标准件，提供对标准件的校准服务，公司通过ISO/IEC 17025认证。公司提供所有证书符合NIST(National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSI(American National Standards Institute美国国家标准学会)标准。其生产的标准片质量精良，精度高、稳定性好。

　　Ni/xx元素单镀层膜厚标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如：单镀层：Au/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，合金镀层：Ni-P/xx。

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