镀层膜厚标准片的应用及作用

更新时间：2022-12-30

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镀层膜厚标准片又名膜厚仪校准片,用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

镀层膜厚标准片作用：

1：用来对膜厚仪工作状态的准确性和稳定性进行校验。在膜厚仪测试过程中对膜厚仪运行过程中，确认工作状态。防止膜厚仪故障状态时能*时间确认。

2：专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

使用：

1、先找到“添加”按钮点击两次。

2、其次会出现1井和 2井，代表2个样品高度添加成功。

3、后涂层厚度仪标准片，在距离列表中分别输入0.5（单位mm）和17.5（单位mm）即可。