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镀层测厚仪的测量方法及校准你可知晓
  • 更新日期:2023-12-26      浏览次数:232
    •   镀层测厚仪是一种用于测量物体表面镀层厚度的仪器。它广泛应用于各个领域,包括工业制造、建筑材料、航空航天等。镀层测厚仪的工作原理是通过发送和接收超声波来确定物体表面镀层的厚度。在测量过程中,仪器会将超声波发送到物体表面,然后接收反射回来的超声波。根据超声波的传播时间,可以计算出镀层的厚度。
       
        镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75*左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
       
        测量方法
       
        镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
       
        X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测*薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
       
        涂层测厚仪在测量过程中需要定期校准来保证其测量精度。定期进行标准样品的校准是测量正确的重要保证。
       
        1. 根据仪器的使用手册进行校准操作;
       
        2. 使用标准样品进行校准,确保符合测量准确性要求;
       
        3. 校准频率根据使用情况和要求进行,建议每个月进行一次校准;
       
        4. 校准时应当注意仪器的稳定性和环境条件(如湿度、温度等)。