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X射线镀层膜厚仪

产品时间:2022-10-14

简要描述:

X射线镀层膜厚仪采用开槽式大平台设计,适合测试扁平状大面积样品,适合线路板及连接器行业的镀层厚度管控,运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

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  X射线镀层膜厚仪
 
  产品类型:能量色散 X 荧光光谱分析设备
 
  产品名称:X射线镀层膜厚仪
 
  型 号:iEDX-150WT
 
  生 产 商:韩国 ISP 公司
 
  特点:该型仪器采用开槽式大平台设计,适合测试扁平状大面积样品,适合线路板及连接器行业的镀层厚度管控。
 
        (一)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪产品优势
 
  1. 镀层检测,多镀层检测可达 5 层,精度及稳定性高。
 
  2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达 110*110*5mm。(固定台可选)
 
  3. 激光定位和自动多点测量功能。
 
  4. 可检测固体、粉末状态材料。
 
  5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
 
  6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
 
  7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结
 
  果。
 
  8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
 
  9. 软件*升级。
 
  10. 无损检测,一次性购买标样可长期使用。
 
  11. 使用安心无忧,售后服务响应时间 24H 以内,提供*保姆式服务。
 
  (二)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪配置及技术指标
 
  1. X 射线管:高稳定性 X 光光管,微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶
 
  铍窗口, 阳极焦斑尺寸 75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。
 
  50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。
 
  2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)
 
  能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
 
  3. 滤光片/可选
 
  初级滤光片:Al滤光片,自动切换
 
  7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
 
  (三)X射线镀层测厚仪测量原理
 
 

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