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一文介绍x射线镀层测厚仪原理及应用范围
  • 发布日期:2022-10-31      浏览次数:765
    • X射线镀层测厚仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法, 射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量速度慢,多适用于抽样检验。
      x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
      x射线镀层测厚仪原理
      1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质**厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。
      理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。
      2、XRF镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
      功能:精密测量金属电镀层的厚度。
      应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。 
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