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金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪

产品时间:2021-08-24

简要描述:

金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪
产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:镀层厚度测试仪
型 号:iEDX-150WT
生产商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

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发邮件给我们:weihong.jiang@gz-hongxi.com

金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪产品简介:

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称:镀层厚度测试仪

型   号:iEDX-150WT

生产商:韩国ISP公司

亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

产品图片:


iEDX-150WT


金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪 iEDX-150WT特点:


工作条件

●工作温度:15-30℃

●电源:AC:110/220VAC 50-60Hz

●相对湿度:<70%,无结露

●功率:150W + 550W


产品优势及特征

(一)产品优势

  • 1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

  • 2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达220*220*10mm。(固定台可选)

  • 3. 激光定位和自动多点测量功能。

  • 4. 可检测固体、粉末状态材料。

  • 5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

  • 6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

  • 7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

  • 8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

  • 9. 软件*升级。

  • 10. 无损检测,一次性购买标样可长期使用。

  • 11. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务。

  • 12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

  • 13. 可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

  • (二)产品特征

  • 1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

  • 2. 计算机/ MCA(多通道分析仪)

  • 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

  • 3. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。

  • 可以增加RoHS检测功能。

  • 4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

  • 励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

  • 吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2

  • 线性模式进行薄镀层厚度测量

  • 相对(比)模式 无焦点测量DIN 50987.3.3/ ISO 3497

  • 多镀层厚度同时测量

  • 5. 测试能力(基本配置:PIN探测器+0.3准直器)


  • 当化金厚度在2u〞-5u〞时,测量时间为40S

  • 准确度规格±5%

  • 精确度规格<5%(COV变动率)


  • 当化金厚度>5u〞时,测量时间为40S

  • 准确度规格±5%

  • 精确度规格<5%(COV变动率)


  • 当化银厚度在5u〞-15u〞时,测量时间为40S

  • 准确度规格±8%

  • 精确度规格<7%(COV变动率)


  • 测化锡时,测量时间为40S

  • 准确度规格±8%

  • 精确度规格<6%(COV变动率)


  • 准确度公式:准确度百分比=(测试10次的平均值-真值)/真值*100%

  • 精确度COV公式: (S/10次平均值)*100%


  • 6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

  • 7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

  • 8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量 =每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。


  • 产品配置及技术指标说明

  • 测量原理:能量色散X射线分析

    样品类型:固体/粉末

    X射线光管:50KV,1mA

    过滤器:5过滤器自动转换

    检测系统:Pin探测器(可选SDD)

    能量分辨率:159eV(SDD:125eV)

    检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

    准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

    应用程序语言:韩/英/中

    分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

    仪器尺寸:840*613*385mm

    样品移动距离:220*220*10 mm(自动台)

  • 1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

  • 微焦点X射线管、Mo (钼)靶

  • 铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

  • 50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。

  • 2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

  • 能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

  • 3. 滤光片/可选

  • 初级滤光片:Al滤光片,自动切换

  • 7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

  • (0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  • 4. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
    激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤
    软件控制程序进行持续性自动测量

  • 5. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

  • 6. 分析谱线:

  • - 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

  • - 基点改正(基线本底校正)

  • - 密度校正

  • - Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

  • 7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

  • - 观察范围:3mm x 3mm

  • - 放大倍数:40X

  • - 照明方法:上照式

  • - 软件控制取得高真图像

  • 8. 计算机、打印机(赠送)

  • 1) 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

  • 2) 含Win 7/Win 10系统。

  • 3) Multi-Ray镀层分析软件

  • 注:设备需要配备稳压器,需另计。




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