产品分类
您现在的位置:首页 > 技术文章 > 镀层测厚仪的产品功能特性介绍
镀层测厚仪的产品功能特性介绍
  • 发布日期:2022-04-21      浏览次数:528
    • 射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到质量标准的手段。我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。使用x射线镀层测厚仪的主要测量方法有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
      镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。主要分为磁性镀层测厚仪、电涡流镀层测厚仪,X射线镀层测厚仪三类测量方法。
      镀层测厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。
      x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
      镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
      x射线镀层测厚仪的特点:
      1、一次可同时分析24个元素。
      2、任意多个可选择的分析和识别模型。
      3、相互独立的基体效应校正模型。
      4、多变量非线性回收程序。
      5、专业贵金属检测、镀层厚度检测。
      6、针对不同样品可自动切换准直器。
      7、智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
      8、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。 
    客户至上 用心服务
    在线客服