随着市场竞争日益激烈，企业成本的不断提高，客户对电镀膜厚仪的要求越来越高，普通的产品无法满足客户的要求，通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过接收器及软件分析来精确分析金属(铝合金、铜合金)电镀层(镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等)的厚度，电镀膜厚仪厂家，*无损分析，zui多一次分析五层，zui薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移动探测器和X光管上下可动，可以对凹面和凸面达到更好的测试效果，完成下照式对某些特殊样品无法测试的效果。
 

　　电镀膜厚仪的影响要素有哪些？
 

　　1、基体金属磁性质
 

　　磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响(在实践运用中，低碳钢磁性的改变能够认为是轻微的)，为了防止热处理和冷加工因素的影响，应运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
 

　　2、基体金属电性质
 

　　基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率与其资料成分及热处理方法有关。运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。
 

　　3、基体金属厚度
 

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响。
 

　　4、边缘效应
 

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行丈量是不牢靠的。
 

　　5、曲率
 

　　试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在曲折试件的表面上丈量是不牢靠的。
 

　　6、试件的变形
 

　　丈量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出牢靠的数据。